半導体パッケージ検査用加圧導電シート

半導体デバイスの高速化が進み、テスト環境もそれに適合したコンタクターが必須となっています。
弊社のＰＣＲ®シートは５０ＧＨｚまでのワイドバンズに対応し、テスト環境をサポートします。
ＰＣＲ®シートは、通常の金属プローブに比較し低インダクタンスを実現できます。
また、ピン傷を付けず、電気テスト後の外観試験等で歩留まりを落とすことはありません。