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IC chip検査用途IC chip Inspection

サンプルイメージ

●低インダクタンスで高周波検査に優れた性能を発揮します。
●導電粒子によるソフトコンタクトで半田ボールや測定基板にダメージを与えません。
●微細、多ピンパッケージテストで優れた価格優位性があります。
●ワンタッチ交換でき、生産性向上を可能にします。


プリント基板検査用途Printed Wiring Board Inspection

サンプルイメージ

●接触安定性に優れ、高いスループット検査を実現。また、4端子検査も対応可能です。
●加圧導電ゴムのため、ピンマーク(傷)を付けない構造です。
●ユニバーサルヘッド適用(個別ヘッド作成不要)することにより、短納期と低価格帯を実現しました。
●検査治具が薄いため、省スペース保管が可能となります。
●被検査基板の回路端点を自社開発のアプリケーションにより自動抽出。検査点漏れは、発生しません。

タッチパネル検査用途Touch panel Inspection

タッチパネルイメージ

●接触安定性に優れ、高いスループットで導通・短絡・静電容量検査を実現します。
●加圧導電ゴムでコンタクトするため、タッチセンサーパネルにピンマーク(傷)をつけない構造です。
●フィルムタイプとガラスタイプの両方のタッチセンサーパネルに対応可能です。
●検査治具が薄いため、省スペース保管が可能となります。

発想が広がる自由な用途Touch sensor

サポート情報global support

 
サポートイメージ

お客様のグローバル生産に対して、私たちがやるべきことは、安心してご利用いただける製品をご提供及びサポ―トすることです。 日本国内はもとより韓国、台湾、中国、アセアンなど海外でも国内と同様のサポートを提供致します。

展示会情報News

2021.05.03
JMTはTestConX 2021のDistinguished Sponsorです。
2019.12.11
SEMICON Japan2019に出展。
2017.12.13
SEMICON Japan2017に出展。
2016.12.14
SEMICON Japan2016に出展。
2016.03.15
SEMICON Chinaに出展。
(中国、上海)
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